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本文采用低叶酸培养双诱导的方法对86例智力低下儿童进行了脆性X染色体分析,结果共发现染色体异常11例,为受检人数的12.79%.检出3例脆性X综合征,检出率为3.49%,占异常核型的27.27%.提示脆性X综合征是导致先天性智力低下常见原因之一,对智力低下儿童进行脆性X检测,确诊患者,对优生优育提高人口素质具有重要的现实意义.