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以喇曼光谱和红外测温仪为表征手段，研究了聚合物电致发光器件在施加不同电流密度的工作条件下器件内部热效应对器件老化的影响．通过实验得到器件内发光层的斯托克斯喇曼信号和反斯托克斯喇曼信号强度的比值，代入波尔兹曼方程计算得到该层对应的温度，从而达到精确测量器件内部工作温度的目的．通过对器件施加0～169mA／cm2的电流密度，发现器件内部工作温度逐渐升高，最终达到有机层的玻璃化转变温度后，发光层材料发生相变，变成游离状的液态，这种状态不稳定，造成发光层材料的局部缺陷，使得器件阴阳极短接导致器件短路，从而发光失败