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为了便于技术人员对继电器进行筛选，本文提出了一种基于单片CPLD的微型电磁继电器时间参数（吸合时间、释放时间、触点回跳时间）的测试方法，充分利用CPLD的资源来实现继电器多个时间参数的测量，给出了测试电路的硬件结构及各个部分的电路原理图，并通过实验进行了验证．确定其量程为0～99．99ms，最小分辨率为1μs．该电路具有测量速度快、体积小、成本低和操作简单等优点．