论文部分内容阅读
半导体制造技术突破了一个又一个看似不可能实现的障碍.相应地,也推动了IC测试技术的发展,同时对IC测试的的各方面也提出了新的要求.本刊就此进行了探讨.
IC测试新技术新标准发展方向和对策
【摘 要】
：
半导体制造技术突破了一个又一个看似不可能实现的障碍.相应地,也推动了IC测试技术的发展,同时对IC测试的的各方面也提出了新的要求.本刊就此进行了探讨.
【出 处】
：
电子质量
【发表日期】
：
2004年9期
其他文献
本文以模糊控制理论为基础,设计了一种(新颖的)三维模糊控制器及其具体实现方法.通过仿真实验表明,(新颖的)三维模糊控制器具有优良的鲁棒性、快速性和稳定性,能同时满足快速
近日，北京市质量技术监督局对重点建材市场上销售的固定式、嵌入式和可移式灯具进行了产品质量监督抽查。总体抽样合格率仅为28％，7成多产品不合格。