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SiC单晶片C面固结磨料化学机械抛光的研究
SiC单晶片C面固结磨料化学机械抛光的研究
来源 :电子测试 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ninghong0319
【摘 要】
:
本文研究了三种不同种类的磨料对SiC单晶片去除率的影响。最终选用金刚石磨料作为SiC单晶片的化学机械抛光磨料。结果表明:固结磨料CMP的材料去除率是游离磨料的3倍以上,固结
【作 者】
:
张竹青
罗玉梅
【机 构】
:
郑州工业应用技术学院
【出 处】
:
电子测试
【发表日期】
:
2016年12期
【关键词】
:
固结磨料
SIC晶体
化学机械抛光
材料去除率
FA-CMP
SiC single crystal
chemical mechanical polishing
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本文研究了三种不同种类的磨料对SiC单晶片去除率的影响。最终选用金刚石磨料作为SiC单晶片的化学机械抛光磨料。结果表明:固结磨料CMP的材料去除率是游离磨料的3倍以上,固结磨料抛光垫,可大幅度提高材料去除效率。
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