SiC单晶片C面固结磨料化学机械抛光的研究

来源 :电子测试 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ninghong0319
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
本文研究了三种不同种类的磨料对SiC单晶片去除率的影响。最终选用金刚石磨料作为SiC单晶片的化学机械抛光磨料。结果表明:固结磨料CMP的材料去除率是游离磨料的3倍以上,固结磨料抛光垫,可大幅度提高材料去除效率。
其他文献
一、当前我省市场价格的运行情况今年以来,面对物价上涨的形势,在省委、省政府的正确领导和大力支持下,全省物价系统和各部门共同努力,保证了党中央、国务院各项价格政策的贯彻落
朱德熙先生是享誉国内外的当代著名语言学家.<朱德熙文集>(以下简称<文集>,1999年9月由北京商务印书馆出版)的出版,对我国语言学事业的发展具有重大意义.<文集>共5卷,收入4部
选择性问题一直是困扰接收机-60d B带宽指标问题的难点。通过分析接收机的设计原理,采取电路排除法,查找到了有效解决接收机-60d B带宽指标超标问题的方法,对电路前端器件75M
随着通讯行业技术创新的发展,超宽带(UWB)突出了其优势。UWB通信具有速率、容量、抗干扰以及安全性等方面的优点,普遍被认为是新一代无线通信领域具有革命性的技术。目前,主要
胡锦涛总书记在党的十七大报告中,明确提出了促进国民经济又好又快发展的任务。实现又好又快发展,是全面落实科学发展观的本质要求,也是树立正确政绩观的具体体现。从“又快又好