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分析了纳米颗粒的能级结构，建立了载流子弛豫的简化模型，运用数值模拟方法讨论了激发密度、表面态密度及俘获态电子的弛豫率对弛豫过程的影响。讨论结果表明，激发密度的增大及表面态的减少都会导致表面态上电子的饱和，使导带上出现电子的积累，导带电子寿命增大；深俘获态电子的弛豫是影响材料响应速度的主要因素。应用此模型对近红外泵浦探测实验的结果进行分析，表明模型可望在实验结果分析上得到应用。