基于量子进化算法的时序电路测试生成

来源 :微计算机信息 | 被引量 : 0次 | 上传用户:imafool2009
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本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点,本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统的测试生成算法中,建立了时序电路的量子进化算法测试生成模型。在国际标准电路上的验证结果表明,与同类算法相比,该算法模型可获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。
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