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研究了导波用于扭曲类液晶盒指向矢测定的敏感性问题，具体讨论了两种几何的反射谱即衰减全反射谱和半漏导波反射谱及扭曲角和预倾角的变化对反射谱的影响。
扭曲类液晶盒衰减全反射谱和半漏反射谱的特点
【摘 要】
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研究了导波用于扭曲类液晶盒指向矢测定的敏感性问题，具体讨论了两种几何的反射谱即衰减全反射谱和半漏导波反射谱及扭曲角和预倾角的变化对反射谱的影响。
【机 构】
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清华大学化学系,北京清华液晶工程中心
【出 处】
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液晶与显示
【发表日期】
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1998年4期
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