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目的研究在X线全颌曲面断层片和头颅后前位片上下颌骨线距测量项目的相关性，探讨曲面断层片定量分析评价下颌骨发育的应用价值。方法选取同一技师同时期拍摄的52例患者的全颌曲面断层片和头颅后前位X片，分别测量左右侧下颌骨升支高度、下颌体长度、下颌综合长度，对测量结果进行统计分析。结果下颌骨升支高度和下颌综合长度在X线全颌曲面断层片和头颅后前位片上测量值间有明显相关性，而下颌体长度两测量值间尚未见明显相关性。结论在严格控制拍摄条件下，曲面断层片可以进行下颌骨线性指标的测量来评价下颌骨生长发育。