基于MOCVD生长的高Al组分AlxGa1-xN的HRXRD研究

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通过MOCVD设备,在c面蓝宝石衬底上异质外延了不同Al组分含量的AlGa1-xN材料。生长过程中采用了低温缓冲层技术、脉冲原子外延技术(PALE)和多层超晶格缓冲技术,例如AlGaN/AlN SLs结构,成功得到了表面光滑无裂纹的AlxGa1-xN膜。并且通过HRXRD对材料进行了多个晶面方向上的摇摆曲线和2θ-ω表征测试,在此测试基础上对材料的Al组分、a轴和c轴的晶格常数以及位错密度进行了相应的计算,并定性的分析了材料的应变状态。
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