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期刊论文
第三方集成电路IP质量评测过程与案例分析
第三方集成电路IP质量评测过程与案例分析
来源 :中国集成电路 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sunqingshu
【摘 要】
:
本文提出了一种基于第三方的集成电路IP质量评测过程,基于第三方过程的IP评测案例分析表明,该过程能够有效地提高集成电路IP项目的可交付项质量。同时本论文使用该评测过程的应
【作 者】
:
周萌
赵辉
梁平
孙加兴
谢学军
邱善勤
【机 构】
:
工业和信息化部软件与集成电路促进中心
【出 处】
:
中国集成电路
【发表日期】
:
2011年9期
【关键词】
:
集成电路IP
IP质量模型
评测
Semiconductor IP IP Quality Model Qualification
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本文提出了一种基于第三方的集成电路IP质量评测过程,基于第三方过程的IP评测案例分析表明,该过程能够有效地提高集成电路IP项目的可交付项质量。同时本论文使用该评测过程的应用案例,对进一步的集成电路IP质量发展提出了若干建议。
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