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随着电路设计技术的不断发展，集成电路的测试对保证电路可靠性的作用日益增加。集成电路的测试不仅对确保电路的可靠性有重要作用，而且可以降低电路与系统的制造成本。本文是基于集成电路的逻辑功能测试理论，通过测试集成电路的逻辑功能是否正常来判断电路功能是否正常。实验结果表明，该系统测试便捷，准确，对于芯片的生产商和使用者都具有较重要的意义。