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随着国内芯片产业的不断发展，芯片供货需求大，但是批量测试无法满足供货要求，为此，该文提出一种基于NIOS II嵌入式系统的芯片自动测试系统设计。NIOS II是Ahem公司推出的一种高效、灵活的可编程片上系统，由内置NIOS II软核处理器、存储器、通信接口以及自定义外设构成，编写下位机自动测试控制程序并下载进FPGA，使用串口进行上下位机通信，从而完成芯片自动测试系统设计。