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与时延测试相比,时延故障诊断需要更精确的故障模型。该文提出了采用精确测量的时延模型和时延故障模型。在这种模型下,利用电路通路图的原理,得到与被测电路的拓扑结构有关的一个精简测试集。测试集的大小与电路的大小保持线性增长关系;其中的每一个测试对应于一条通路的单跳变敏化向量,将测试集中的单跳变敏化向量送入被测电路,可以用测试仪测量相应通路的延时,得到电路关于此测试集的时延故障症候。该文对时延故障症候提供