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数字电子电路测试技术分析
数字电子电路测试技术分析
来源 :中国新通信 | 被引量 : 0次 | 上传用户:star2006111
【摘 要】
:
科学技术的发展在某种程度上带动了数字电子电路技术的进步,但芯片体积的不断缩小使得电子电路设计变得愈加困难,鉴于此,有必要对数字电子电路测试技术进行优化.本文主要对当
【作 者】
:
周晓芬
【机 构】
:
甘肃省广播电视学校
【出 处】
:
中国新通信
【发表日期】
:
2020年19期
【关键词】
:
数字电子电路
测试技术
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科学技术的发展在某种程度上带动了数字电子电路技术的进步,但芯片体积的不断缩小使得电子电路设计变得愈加困难,鉴于此,有必要对数字电子电路测试技术进行优化.本文主要对当前的数字电子电路测试技术进行研究和分析.
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