T3铜的电子背散射衍射(EBSD)花样分析

来源 :电子显微学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:neneraini1314
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
材料的性能主要由显微特征决定,如:成分,织构等.本文采用INCA Crystal电子背散射仪,对T3紫铜晶体材料进行了衍射花样分析,从试样中选定矩形区域或任意形状的区域进行面扫描,获得极图、反极图、欧拉角分布图、晶粒尺寸、重位点阵晶界的分布和显示、取向和位向差数据.织构自动识别,并标定出不同织构类型所占的百分比等信息.
其他文献
21世纪已经走过了一年,素质教育得到了全面推进,中国的教育界也为之欢欣鼓舞.特别是当代的大学生们,国家和人民对大学培养的人才寄予很高的期望,把他们培养成为高素质、高层