论文部分内容阅读
介绍了高压驱动芯片的内部原理；分析了感性负载电路中负压产生的原因和引起高压驱动芯片误触发而使产品失效的机理；列举了两种通用的解决方法，并提出了另一种更为有效的方案，该方案已经在实际产品的电路中得到应用，取得了很好的效果。
负压引起高压驱动芯片电路失效的解决方案
【摘 要】
：
介绍了高压驱动芯片的内部原理；分析了感性负载电路中负压产生的原因和引起高压驱动芯片误触发而使产品失效的机理；列举了两种通用的解决方法，并提出了另一种更为有效的方案，该方
【机 构】
：
上海交通大学微纳科学技术研究院
【出 处】
：
电子科技
【发表日期】
：
2008年5期
其他文献