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在瞬态电流测试中，即使是同一设计的芯片，由于制作工艺参数的不稳定性，在输入相同的测试向量对时，会产生不同的瞬态电流，这就可能减小故障电路和无故障电路瞬态电流的差别，导致不能对电路是否有故障做出正确的判断。参考稳态电流测试中克服工艺参数影响的方法，针对开路故障，提出了一种在瞬态电流测试中克服工艺参数影响的方法，并利用Pspice软件对这种方法进行了模拟实验。模拟结果证明，该方法是可行的。