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为有效降低集成电路的测试数据量,设计了一种测试数据分块纵向相容的编码压缩和解压方案。将原始测试集中的每一测试向量以固定位数分块,然后将顺序号相同的数据块归为一列,根据每一列数据块间的相关性,将长的数据块用短的标记码表示,从而实现测试数据的压缩,进而设计了与该编码方案相应的解压结构。研究表明：该方案与同类方案相比有较高的编码压缩率,而且解压过程简单易行。