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随着微电子技术的不断发展,越来越多的FPGA等复杂逻辑器件应用到武器装备电路板上,使电路板结构功能日趋复杂,导致传统的方法已不能对该类电路板进行有效的测试.为此,文章首先通过对FPGA的结构分析来说明FPGA测试的特殊性与复杂性,然后针对各种测试方法的优缺点,提出一种LASAR软件与ATE测试平台相结合的方法.