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期刊论文
SiC微粉表面阴离子含量的分析研究
SiC微粉表面阴离子含量的分析研究
来源 :现代仪器 | 被引量 : 0次 | 上传用户:carina52
【摘 要】
:
本文首次采用超声波水萃取-离子色谱法(超声波水萃取-IC法)对SiC微粉表面阴离子含量进行准确测量,并对测量不确定度进行评估。主要是针对氟离子、氯离子、溴离子、硝酸根离子等
【作 者】
:
王奕
王金钢
【机 构】
:
中国电子科技集团公司第46研究所
【出 处】
:
现代仪器
【发表日期】
:
2010年6期
【关键词】
:
SIC微粉
阴离子
离子色谱
测量不确定度
SiC Anions IC Uncertainty in measurement
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本文首次采用超声波水萃取-离子色谱法(超声波水萃取-IC法)对SiC微粉表面阴离子含量进行准确测量,并对测量不确定度进行评估。主要是针对氟离子、氯离子、溴离子、硝酸根离子等无机阴离子进行研究。结果表明,SiC微粉表面含有微量的无机阴离子,特别是卤素。
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