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本文研究了如何运用优化测试程序的方式提高测试效率。列举了正常测试程序流程的不足，阐明了使用正常测试程序流程和改良后的测试程序流程的对比，采用新的测试方法，优化测试效率，进而降低了测试成本。
高效率测试MPW晶圆上的同类型芯片的方式
【摘 要】
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本文研究了如何运用优化测试程序的方式提高测试效率。列举了正常测试程序流程的不足，阐明了使用正常测试程序流程和改良后的测试程序流程的对比，采用新的测试方法，优化测试效率
【机 构】
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无锡华润上华半导体有限公司设计服务中心
【出 处】
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中国集成电路
【发表日期】
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2011年2期
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