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AgI薄膜的厚度是影响介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤传输损耗的一个重要因素. 本研究推导出介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤中AgI薄膜厚度(h)的计算模型, 即c(h,t)=-C0[1-(2)/(π)∫(h)/(2Dt)0exp(-β2)dβ]; 通过热场发射Auger微探针及电子探针测试了不同工艺条件下所制得的介质Ag/AgI镀层玻璃空芯光纤中AgI薄膜厚度, 发现测试结果与理论计算值相吻合. 这为制备一定厚度AgI薄膜的介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤提供了实验指导.