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一种新型触针式曲面形貌测量系统

来源 :华中理工大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：kwl9970024

【摘 要】

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介绍一种用于曲面形貌特性的测量－分析系统。在触针技术的基础上，采用激光－光栅干涉和散斑干涉条纹微机细分技术并利用计算机图形学原理，解决高精度曲面表面形貌测量问题，讨论了系

【作 者】

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蒋向前 肖少军 谢铁邦 李柱 

【机 构】

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华中理工大学测试技术与科学仪器研究中心

【出 处】

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华中理工大学学报

【发表日期】

：

1994年09期

【关键词】

：

测量系统 曲面表面形貌 接触测量 

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介绍一种用于曲面形貌特性的测量－分析系统。在触针技术的基础上，采用激光－光栅干涉和散斑干涉条纹微机细分技术并利用计算机图形学原理，解决高精度曲面表面形貌测量问题，讨论了系统工作原理、光电信号处理、软件设计及曲面数据处理模型，给出了初步实验结果。

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