立体脑电图引导射频热凝毁损治疗下丘脑错构瘤相关癫痫的长期疗效观察

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目的

探讨立体脑电图(SEEG)引导射频热凝毁损技术在下丘脑错构瘤相关癫痫治疗中的长期有效性和安全性。

方法

回顾性分析2015年6月至2018年11月北京丰台医院神经外科—首都医科大学附属北京天坛医院医疗联盟收治的15例下丘脑错构瘤相关癫痫患者的临床资料。所有患者均接受SEEG电极置入并进行视频脑电监测。根据SEEG结果和影像后处理结果确定毁损触点,利用电极触点进行热凝毁损。分别于术后3、9及24个月对患者进行门诊复查或电话随访。采用Engel分级标准评估临床疗效,同时观察记录远期并发症情况。

结果

仅1例患者进行2次SEEG引导下射频热凝毁损,15例患者共完成16次电极置入。术后11例患者癫痫发作消失。6例患者出现不同程度的并发症,其中中枢性发热、尿崩、电解质紊乱及嗜睡均在出院时缓解,Horner综合征和肌力下降等症状在首次随访时已缓解。15例患者均完成2年以上随访,随访时间为(39.6±13.0)个月(25~66个月)。3个月随访时所有患者的头颅MRI复查结果均显示瘤蒂被不同程度毁损,脑电图结果显示异常放电消失。至末次随访,15例患者中,11例癫痫发作完全消失(Engel Ⅰa级),2例明显改善(Engel Ⅰb~Ⅲ级),2例未见明显改善(Engel Ⅳ级)。2例患者出现长期并发症,包括体重增加、记忆力减退及内分泌紊乱。

结论

长期随访证实,SEEG引导射频热凝毁损术治疗下丘脑错构瘤相关癫痫的安全性和有效性均较好。

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