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为了提高双CCD摄影测量系统对大口径且具有反射表面物体的近场三维测量精度 ,提出用最小二乘广义逆法解决成像系统的非线性问题 ,分析比较了用最小二乘广义逆法和Levenberg -Marquart2种方法解决成像系统的非线性问题 ,并采用投影生成特征点法 ,对圆抛物面形卫星天线进行测量 ,重构其面形。实验表明 ,该系统操作简单、实用性强 ,消除系统的非线性问题后 ,测量精度提高 2 0 % ,测得面形与理论面形相当吻合 ,可用于大型物体的面形测量。针对被测物具体条件 ,选择合适的算法消除系统的非线性问