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提出了利用可见-近红外光谱技术和多光谱成像技术检测鸭梨损伤随时间及程度变化的新方法。利用可见-近红外光谱技术,分别结合偏最小二乘（partial least squares,PLS）和最小二乘支持向量机（leastsquares-support vector machine,LS-SVM）方法对鸭梨受损程度和受损天数进行预测。结果表明,两种方法在鸭梨损伤后期对损伤程度的判别均具有较好的效果;LS-SVM方法对鸭梨轻度损伤的损伤天数的预测精度较高,但重度损伤天数的预测效果不如PLS方法。然后利用多光谱图像预