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传统上对电子设备故障倾向的监测是以设备整体为基础的,本文以零部件为单位对电子设备进行故障状态监测的角度出发,开展了可行性和有效性的相关研究.以晶体管为例,通过研发小型半导体试验装置,开展简易电路试验,明确了晶体管的老化机理,验证了通过使用电压监测电路开展老化状态监测的可能性,可为今后新型装置的研发和保养方法的改进提供参考作用.