n^+-p-HgCdTe光伏探测器的化学硫化

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首次采用Na2S·9H2O在n^+-p-HgCdTe表面进行化学硫化,然后溅射ZnS于化学硫化层上的钝化方法。Ⅰ-Ⅴ特性曲线显示,经过化学硫化的n^+-p-HgCdTe器件的漏电流有所下降。分析表明,化学硫化由于抑制了表面氧化而降低了表面态密度,避免了相应漏电流的形成。
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