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测试序列问题的目标是用最小的期望测试费用找到最佳测试序列。提出了一种广义AO算法解决了电子设备的测试序列问题。对传统的AND／OR图进行扩展得到一种广义的AND／OR图，它不仅能够提高AND／OR图的表达能力而且能够实现推理操作符与问题之间的多对多关系；描述了广义AO算法的步骤并且分析了该算法的计算复杂度。通过实例说明广义AO算法不仅可有效减少计算复杂度和平均测试代价，而且生成的故障诊断策略能快速、有效的指导维修人员定位故障以减少维修代价。