论文部分内容阅读
设计了一种改进扫描链结构的内建自测试（BIST）方案。该方案将设计测试序列发生器（TPG）中合适的n状态平滑器与扫描链的重新排序结合起来，从而达到低功耗测试且不致丢失故障覆盖率的目的。通过对15位随机序列信号的测试，发现此TPG中的n状态平滑器在降低功耗的同时还减小了故障覆盖率，遂又设计了重组扫描链的结构来解决这一问题。实验结果表明，该设计方案对于降低平均测试功耗和提高故障覆盖率都具有显著的效果。