论文部分内容阅读
第32届国际设计自动化学术会议(The 32nd Design Automation Conference)于1995年6月6—9日在美国San Francisco举行。会议期间同时举办IC CAD产品展览会。像历届设计自动化会议一样,本届会议分四大组进行学术报告,内容主要有:电路模拟,器件模拟,时序分析和验证;故障模拟,测试生成,测试有效性,可测试性和设计验证;布图规划、布局、布线,模块生成,压缩,版图验证和布图系统;组合和时序逻辑综合及优化,工艺映射,综合和布图结合,高层次综合;硬件描述、设计