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用20～34keV能量的电子束轰击锆靶，从而测得锆元素的K壳层电离截面。这些数据是国际上首次报道。在实验中采用电子输运双群模型修正了由厚衬底产生的反射电子对计数的影响。同时用蒙特-卡罗EGS4程序计算了电子在质量厚度为24.3μgcm2的锆靶中的平均路径长度。
能量范围从20ke到34kev的锆元素K壳层电离截面
【摘 要】
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用20～34keV能量的电子束轰击锆靶，从而测得锆元素的K壳层电离截面。这些数据是国际上首次报道。在实验中采用电子输运双群模型修正了由厚衬底产生的反射电子对计数的影响。同时
【机 构】
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四川大学,中国工程物理研究院核物理与化学研究所,
【出 处】
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强激光与粒子束
【发表日期】
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2004年期
【基金项目】
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教育部科学技术基金
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