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利用CO2、P与ZrH2反应生成约3~5μm厚的薄膜,用扫描电镜对薄膜横截面进行形貌观察;用X光电子能谱和X射线衍射对反应层表面进行分析.分析结果证明,所得到的氢化锆表面反应层致密,与基体结合良好,具有阻挡氢的能力;反应层中含有Zr、C、O等元素;除baddeleyite结构的ZrO2以外,还有具有C-H键和O-H键的物质.