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在BIST（内建自测试）过程中，线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器，为保障故障覆盖率，会产生很长的测试矢量，从而消耗了大量功耗。在分析BIST结构和功耗模型的基础上，针对test-per-scan和test-per-clock两大BIST类型，介绍了几种基于LFSR（线性反馈移位寄存器）优化的低功耗BIST测试方法，设计和改进可测性设计电路，研究合理的测试策略和测试矢量生成技术，实现测试低功耗要求。