【摘 要】
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经脉冲激发后,ZnS 薄膜中 Mn 中心的EL 衰减明显地不是指数型了,在低激发强度下,两参数经验公式很好地描述了其衰减规律。发光效率被表示为整个衰减的时间积分(即总发光强度)
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经脉冲激发后,ZnS 薄膜中 Mn 中心的EL 衰减明显地不是指数型了,在低激发强度下,两参数经验公式很好地描述了其衰减规律。发光效率被表示为整个衰减的时间积分(即总发光强度)与无损耗时辐射衰减的时间积分(即辐射跃迁寿命)之比。上边所描述的参数化公式特别适合于描述衰减和发光效率与 Mn 浓度间的变化关系,由该方法得到结果不是唯一的,在理想掺杂浓度下,不同方法制备的膜间相差2倍,且在较高浓度时差别更大一些。然而由于非线性交叉驰豫,这种差别随着亮度本身改变而消除,单就光的输出耦合效率而论其原因在于散封。
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