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可测试性设计（Design-For-Testability，简称DFT）是芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试。大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中，为提高芯片的易测必而采的各种可测试性设计技术。主要包括扫描设计（Scan Design)，存储器内建处测试（Build-in-self-test,简称BIST）以及与IEEE1149．1标准兼容的边界扫描设计（Boundary Scan Design，简称BS