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为了快速感知并分析田间作物生长状况,采用先进的半导体镀膜工艺的光谱成像传感器,研究镀膜型光谱成像数据的提取与叶绿素含量分布式检测的方法。实验采用基于镀膜原理的IMEC 5×5成像单元式多光谱相机,对47株苗期玉米植株的冠层进行拍摄,获取673~951 nm范围内的25个波长的光谱图像。利用SPAD-520叶绿素仪非破坏性地测量叶绿素含量指标,每株玉米冠层叶片设置2~3个采样点,每点测量3次取平均,共计251个样本数据;同时使用ASD Handheld2型光谱仪采集相应位置区域的反射率曲线,以对比分析