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为了得到所需的相位信息，必须克服噪声、条纹断裂及欠采样等各类不利因素的影响，针对该问题，在处理严重欠采样问题时采用了径向剪切的原理，由包裹相位构建出初始的光场，并对该光场进行多次数字缩放，计算它们之间的相位差，将一个困难的问题分解为多个较为简单的问题进行处理，从而得到需要的解包裹相位。在理论分析的基础上给出了具体的相位解包裹算法，模拟计算和实验都表明了该方法的可行性。结果表明，该方法能较好地处理严重欠采样问题，相比传统的解包裹算法适用性更广。