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本文扼要介绍了表征材料界面特征的电子衍射方法、衍射衬度成像，高分辨透射电子显微术、场离子显微镜－原子探针及高空间分辨分析电子显微术，简单地综述了利用高分辨透射电子显微术表征纳米固体材料晶界结构特征，ＹＢａ２Ｃｕ３Ｏ７－δ薄膜晶界结构及其对临界电流值的影响，陶瓷材料，金属基复合材料界面结构及其对材料性能的影响等方面的部分研究结果。