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应用余氏理论计算了不同温度下有序与无序ＴｉＡｌ化合物的价电子结构，分析了温度升高而引起的晶格膨胀，长程有序度Ｐ和短程有序度ｒ下降对ＴｉＡｌ强度的影响。结果表明，ＴｉＡｌ化合物的Ｒ现象是温度直接影响价电子结构导致的强化与弱化综合作用的结果，而ｒ下降导致的“无序畴”形成将起到主要的强化作用。
TiAl化合物反常屈服行为的键本质研究
【摘 要】
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应用余氏理论计算了不同温度下有序与无序ＴｉＡｌ化合物的价电子结构，分析了温度升高而引起的晶格膨胀，长程有序度Ｐ和短程有序度ｒ下降对ＴｉＡｌ强度的影响。结果表明，ＴｉＡｌ化合物的Ｒ现象是温度直接影响
【机 构】
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中国科学院长春光学精密机械研究所,吉林大学
【出 处】
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稀有金属材料与工程
【发表日期】
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1998年6期
【基金项目】
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吉林省科技计划资助
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