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2006年6月2日，第四届科利登系统技术研讨会在西安索菲特会展中心召开，本次研讨会着重讨论了有关ATE测试的各种主题，譬如IC测试的趋势、零．中频收发器以及RFID芯片新的测试方法、高速总线基础等。来自西安制造、测试、设计、研究院校及高新区园区企业等100多位代表参加了本次研讨会。会议期间，代表们对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。