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本文研究了用石墨粉抑制WO_3蒸发的机理和8种载体物质促进杂质元素蒸发以及增强谱线强度的效果,选择了最佳的载体和光谱测定条件。拟定了从含2％NaF的石墨粉为载体,采用WSP-2型光栅摄谱仪和直流电弧激发光谱,一次摄谱同时测定高纯WO_3中Al、As、Ba、Be、Bi、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Ga、Mg、Mn、Mo、Ni、Pb、Sb、Sc、Si、Sn、Ti、V、Y、Yb和Zr等28种杂质元素的直接光谱分析法。方法的测定下限0.003—3ppm,相对标准偏差5.4—30％,测定的最低杂质总量为19