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介绍了光时域智能测试仪的一般工作原理,讨论了光纤损耗,并针对在光纤长度、光纤损耗等进行测试时存在的测试误差问题,给出了熔接、对接衰耗、测试盲区、不同折射率的光纤测试解决方案,从测试使用角度出发,介绍了降低测试误差,并提高测试精度的方法.
光时域智能测试仪在光纤测试中的应用
【摘 要】
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介绍了光时域智能测试仪的一般工作原理,讨论了光纤损耗,并针对在光纤长度、光纤损耗等进行测试时存在的测试误差问题,给出了熔接、对接衰耗、测试盲区、不同折射率的光纤测
【机 构】
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浙江大学
【出 处】
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机电工程
【发表日期】
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2004年4期
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