论文部分内容阅读
自动测试设备（ATE）中包含了非常复杂的集成电路，专门用于驱动设备的每个引脚。而各个测试设备供应商为了降低成本，采用了质量较差的电缆来连接各个引脚，从而产生了一定的电缆损耗。为了补偿这种损耗，文章采用小尺寸引脚电子器件（PE）来驱动电缆，通过适当的电子电路来补偿电缆损耗，使ATE系统性能接近PE所能提供的性能指标，达到无需考虑电缆损耗问题的目的。