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随着集成电路不断发展，软错误问题日益凸显，对系统可靠性造成越来越严重的影响。通对电路软错误率的分析可以准确评估系统可靠性，并为系统加固提供帮助。提出了一种面向 SystemC 的快速软错误敏感度分析方法：以分层抽样策略对系统接口与内部所有信号进行故障注入，结合统计结果与面积因子，评估系统软错误敏感度。实验以基于 OR1200处理器最小系统的 SystemC 模型为对象，采用仿真故障注入方法构建测试平台，实现故障注入自动化。通过3个测试程序共计约30万次的注入实验，统计分析表明寄存器文件、PC 计算以及指令