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采用晶体场理论和3d^9电子组态在平面四角晶场中的g因子和超精细结构常数A的三阶微扰计算公式以及CdCl2：Cu^2＋晶体的局域结构与EPR谱之间的定量关系，合理解释了CdCl2：Cu^2＋晶体的EPR谱及局域晶体结构，所得EPR参量与实验观测相符合。研究发现芯极化常数约为0．2827。平面四角键长的变化约为0．013nm。因此，CdCl2晶体中掺杂Cu^2＋后，由于静态Jahn—Teller效应引起的晶格驰豫，导致晶格在平面四角内发生了略微伸长的畸变。