磁控溅射法制备W1-xAlxN薄膜的微结构与性能

来源 :粉末冶金材料科学与工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hellen
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采用磁控溅射仪制备一系列不同A1含量的W1-xAlxN薄膜,系统研究该复合膜的微结构、力学性能、高温抗氧化性能及摩擦磨损性能。结果表明,W1-xAlxN薄膜为面心立方结构,呈(200)择优生长。当Al含量(原子分数,下同)为32.4%时,复合膜中形成h-A1N相,且随Al含量增加,h-AlN含量增多。随A1含量增加,薄膜硬度先升高后降低,Al含量为32.4%时薄膜硬度最大,约为37GPa。随Al含量增加,复合膜在室温下的摩擦因数和磨损率均先减小后增大,Al含量为32.4%时达到最小值,分别为0.3和0.9
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