辐射损伤诱发CCD敏感参数退化分析

来源 :核电子学与探测技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:smarten
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研究了CCD敏感参数受辐照后的退化情况。分析了电荷转移效率受不同粒子辐照后的退化情况,并列表进行了对比;分析了暗电流受辐射增大的规律;分析了平带电压和阈值电压受辐射后的漂移现象。初步确定了CCD敏感参数的辐射损伤阈值范围。
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