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SiO2介孔薄膜修饰的红外表面等离子体共振传感器在波长测量模式下的特性研究

来源 :分析化学 | 被引量 : 5次 | 上传用户：shengfusky

【摘要】

：

分别利用射频溅射法和溶胶-凝胶模板法,在玻璃基板上制备45nm厚的金膜和45nm厚的SiO2介孔薄膜,用作表面等离子体共振(SPR)芯片,然后基于Kretschmann结构和共振波长测量模式构建了近红外SPR传感器。实验表明,在宽带平行光入射条件下,随着入射角度(θ)的减小,共振波长(λR)红移,折射率灵敏度(S=&λR/n)迅速提高。在θ=8°时测得的折射率灵敏度为24241nm/RIU,是θ=

【作者】

：

柳倩张喆祁志美

【机构】

：

中国科学院电子学研究所传感技术国家重点实验室

【出处】

：

分析化学

【发表日期】

：

2012年04期

【关键词】

：

近红外表面等离子体共振 SiO2介孔薄膜波长测量模式折射率吸附 Near-infrared surface plasmon resonance Silic

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分别利用射频溅射法和溶胶-凝胶模板法,在玻璃基板上制备45nm厚的金膜和45nm厚的SiO2介孔薄膜,用作表面等离子体共振(SPR)芯片,然后基于Kretschmann结构和共振波长测量模式构建了近红外SPR传感器。实验表明,在宽带平行光入射条件下,随着入射角度(θ)的减小,共振波长(λR)红移,折射率灵敏度(S=&λR/n)迅速提高。在θ=8°时测得的折射率灵敏度为24241nm/RIU,是θ=15°所对应的灵敏度(2524.2nm/RIU)的9.6倍。与常规的裸金SPR传感器相比,在相同的共振波

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